Высокотемпературный носитель информации
- Высокотемпературные носители информации, должны пройти соответствующие испытания в рамках предлагаемых процессов температуры до начала применения.
- Для данных тегов были проведены следующие испытания:
Циклический температурный тест: 20 мин. при 20 °C – 20 мин. при 220 °C.
Кол-во циклов: Данное испытание не гарантирует возможности специализированного высокотемпературного применения, но служит подтверждением общей работоспособности.
- EEPROM, memory 128 byte